dispositif pour inspection des tranches
- dispositif pour inspection des tranches
- plokštelių regimojo tikrinimo įtaisas
statusas T sritis radioelektronika
atitikmenys: angl. wafer inspector
vok. Waferkontrollgerät, n
rus. прибор для визуального контроля пластин, m
pranc. dispositif pour inspection des tranches, m
Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“.
Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas.
2000.
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Waferkontrollgerät — plokštelių regimojo tikrinimo įtaisas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspector vok. Waferkontrollgerät, n rus. прибор для визуального контроля пластин, m pranc. dispositif pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
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прибор для визуального контроля пластин — plokštelių regimojo tikrinimo įtaisas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspector vok. Waferkontrollgerät, n rus. прибор для визуального контроля пластин, m pranc. dispositif pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
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